1、仪器主要功能FLBQ激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布（长短轴大小、光强的空间分布），配合精密刻度导轨能计算出激光光束的12发散角和1e2发散角。不仅适用于小发散角（如固体、气体激光器等）的测量而且适用于大发散角的半导体激光器。 (1)图象获取功能 实时采集：可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。 图象“冻结”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。 连续及脉冲图象的“抓取”：具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和安全性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。 (2)分析测量功能 二维光束截面功率、能量分布； 光束截面功率、能量的三维图(任意方位角，俯仰角)； 通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布； 不同定义下的光束直径及与高斯分布的符合程度； (3)其它功能 自动反差调整功能 快速连续取、放多幅图象 打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出(可与激光、喷墨等多种型号打印机适配)。2、主要技术指标a) 测试波长范围：（可选）；波长测量范围(nm)发散角测量精度激光大功率（W）FLBQ-400-1100400-1100<5%100WFLBQ-400-1550400-1550<5%100WFLBQ-190-1310190-1310<5%100WFLBQ-1440-16051440-1625<5%100WFLBQ-900-1700900-1700<5%100WFLBQ-400-2200400-2200<5%100Wb) 测试激光功率范围：0.01mW~100W (CW)；c) 测试激光工作模式：连续和脉冲模式兼容；d) 大测量光斑半径: 30mm；e) CCD分辨率：>400万像素；f) 测试激光光束的二维、三维分布；g) 测量暗箱采用吸光材料，以消除杂光干扰；h) 光学元件置于光学精密调节架上，以保证其平稳调节；i) 光学暗箱外形尺寸:624mm×360mm×160mm。3、光路原理(1)原理框图

激光器

光学暗箱显示器PC机:图像采集卡系统软件包

(2)暗箱光路4、主要配置部件名称数量型号或功能描述计算机主机1采用pc机，内置显卡、声卡、预装WinXP操作系统显示器119英寸液晶显示器CCD11适合于400-1100nm测试CCD21可选。图像采集卡1数据采集。软件包1用于测试数据处理精密测试道轨2用于器件固定与移动中性滤光片3用于衰减大功率激光（三片，拧到CCD上直接使用）。附加滤光片（整套）1补充衰减镜头1CCD专用（需配合投射屏使用）导轨与支架（整套）1用手移动光学器件，测试距离。固定光学器件等红外感光卡片1用于调试光路