QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡 技术参数： 内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm. 作为我们流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的进一步发展，我们现在推出BarPattern-NANO！ QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡易于使用的幻像提供了两个硅芯片，它们垂直对齐并放置在坚固的塑料支架上。 两种3 x 3mm2的芯片都具有数个线和点图案，分别代表线和点的宽度为1至10 μm。 此外，在芯片上还放置了锯齿状边缘（L）和西门子星（放射状星）。 芯片上的不同结构以这种方式布置在芯片上，从而可以通过一次测量在图像芯片的中心以及外围区域中确定空间分辨率。 芯片上的线型和点型：3 x 3mm2 结构的深度在5和15 μm之间变化。 QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡技术指标 基础材料：??? 固体塑料（切屑放在空气中的支撑件上-壁厚> 0.3 mm） 直径幻影：??? 5.2毫米 高度：??? 19毫米 硅芯片的措施：??? 3 x 3 x 0.66毫米 芯片上的结构（分辨率）：??? 分别为1至10 μm。500至50 LP mm 芯片材质：??? 硅 图案对比??? 硅空气 As a further development of our popular MicroCT-BarPattern-Phantom we now present the BarPattern-NANO! The easy and convenient to use phantom provides two silicon chips, perpendicularly aligned and placed on a solid plastic support. Both 3 x 3 mm2 chips exhibit several line and point pattern representing lines and points of 1 to 10 μm width. In addition a slented edge (L) and a Siemens-star (actinomorphic star) are also placed on the chip. The different structures on the chip are arranged in such a way over the chip, that spatial resolution can be determined in the center as well as in the peripheral regions of the imagechip with a single measurement. Line- and Pointpattern on the chip: 3 x 3 mm2 The depth of the structures varies within 5 and 15 μm. Specifications ba[x]se material:??? solid plastic (chips placed on support in air -> 0.3 mm wall thickness) Diameter Phantom:??? 5.2 mm Height:??? 19 mm measures of silicon chip:??? 3 x 3 x 0.66 mm structures on the chip (resolution):??? 1 to 10 μm, resp. 500 to 50 LPmm Material of chip:??? silicon Contrast of pattern??? silicon air