CLJ-E型激光尘埃粒子检测仪的 技术指标均满足国家计量总局颁布的JJF1190-2008<<尘埃粒子计数器校准规则>>的要求，用于测量洁净环境中单位体积 空气内的尘埃粒子大小及数目，可直接检测洁净度等级为十万级至十级的洁净环境。本仪器采用了半导体激光光源，高亮度数码管显示，体积小、重量轻、检测精度 高、功能操作简单明了，微处理器控制，可贮存、打印测量结果，测试洁净环境十分便利。整机功能采用美国微电脑控制处理技术及国际上先进的SMT芯片贴片 封装技术和半导体激光传感器技术及优质气泵，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多 种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计先进、质量稳定 可靠。

该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测超净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室，食品、饮料包装环境，药品、医疗器械 生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境,微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部 门贯彻GMP规范及电子生产企业的仪器。

产品操作说明：

CLJ-E型激光尘埃粒子检测仪的 技术指标均满足国家计量总局颁布的JJF1190-2008<<尘埃粒子计数器校准规则>>的要求，用于测量洁净环境中单位体积 空气内的尘埃粒子大小及数目，可直接检测洁净度等级为十万级至十级的洁净环境。本仪器采用了半导体激光光源，高亮度数码管显示，体积小、重量轻、检测精度 高、功能操作简单明了，微处理器控制，可贮存、打印测量结果，测试洁净环境十分便利。整机功能采用美国微电脑控制处理技术及国际上先进的SMT芯片贴片 封装技术和半导体激光传感器技术及优质气泵，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多 种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计先进、质量稳定 可靠。

该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测超净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室，食品、饮料包装环境，药品、医疗器械 生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境,微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部 门贯彻GMP规范及电子生产企业的仪器。

?CLJ-E型激光尘埃粒子检测仪参数：

参数项目

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参数说明

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光??? 源

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全半导体激光光源 使用寿命＞40000小时

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采样量

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2.83Lmin?? （0.1cfmmin）

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检测范围

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符 合ISO14644-1 GB50073-2001（CLASS4级，5级，6级，7级，8级，9级）2010版GMP（A级、B级、C级、D级四个级别静态和动态两个状态的测 量），FS-209E（10级、100级、1000级、10000级、100000级、300000级、1000000级）等级别的检测

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粒径通道

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0.3?0.5?1.0?3.0?5.0?10.0（μm）六档同时采样。可选粒径0.5μm，0.7μm，1.0μm，3.0μm，5.0μm ,10.0μm或0.5、1、3、5、10、25μm六档粒径同时计数.粒径可根据客户需要订制

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显示和打印

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LED可直接显示粒子浓度（颗立方米）可将2.83升分（0.1Ft3）内所含颗粒或1m3所含颗粒数依次显示和打印出。

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采样周期

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1～10 （min） 自净时间：＜10min （可调）

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工作环境

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温度:10～35℃??? 相对温度:20～75%RH

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采样点数

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（A）2～7点设定 每点采样次数（L）2～9次设定

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电??? 源

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AC220V±10%??? 50±2Hz?

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数据储存

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断电后数据不丢失。并可随时查看和打印数据。 可存储1000组数据（包括粒径、数据、环境数据、年、月、日、时间）+209E置信度100组

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校?? 准

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我公司已通过国家计量建标考核，可追溯至上海计量测量技术研究院可自行进行校准或第三方国家计量机构进行校准。

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重?? 量

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3KG?外形尺寸: 220×280×135mm?

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备?? 注

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内置打印机,等动力采样头,采样架、铝合金仪器箱、出厂检测报告、操作说明书（温湿度探头为选购件）

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